西格瑪光機偏光解析係統原理

通過測定並分析偏光狀態，可以了解物質內(nei) 部的狀態、表麵性狀或光學特性等。

西格瑪光機的自動偏光解析係統是一套標準化了的光源、光器件、支架平台、測量儀(yi) 和軟件的組合。

既可完成簡易的偏光測量，也可改裝為(wei) 專(zhuan) 用的測定裝置，應用廣泛。

偏光測量軟件

·簡易偏光解析軟件（SimpleAPAS）SimpleAPAS

可實現激光等特定波長的消光比、相位差測定，也可組合到客戶的應用程序中去。

主要功能包括波長板、檢偏器光軸的自動調整，塞拿蒙補償(chang) (Senarmont compensator) 測量相位差，轉動補償(chang) 器方式的偏光計測和相位差測量，各種過程計測。

·綜合偏光解析軟件（SKPola）

使用紫外、可見或近紅外光源，配合專(zhuan) 用的光學係統，可分析分光數據特性。

對應單一波長測定和分光測定，還可以測定高次相位差，可完成偏光光學零件的主要技術指標的評估。

主要功能包括偏光光學零件光軸的自動調整，塞拿蒙補償(chang) (Senarmont compensator) 測量相位差，轉動補償(chang) 器方式的偏光計測，轉動檢片器補償(chang) 方式的偏光計測，圓偏光對比度測量，偏光器透過偏光比測定，分光透過率測定，各種過程計測。

測定內(nei) 容

包括消光比測定、龐加萊 (Poincaré) 球顯示、把測量數據傳(chuan) 送給其他表計算軟件等。

應用例

承接客戶定製或新產(chan) 品開發，如偏光膜透過偏光比測定裝置、附帶同軸觀測係統的相位差測定裝置、圓偏光測定裝置等。

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