幹涉儀的特點--西格瑪光機

2021-10-25 11:23| 發布者: | 查看: |

通常,我們(men) 不容易直接觀測到1微米量級的動態現象的,此時,我們(men) 會(hui) 選擇光學幹涉儀(yi) 進行觀測。

例如,測量光學鏡頭的麵精度的幹涉儀(yi) ,精密測量距離或位移的測長儀(yi) ,需要精密測量位移變化的速度計或振動儀(yi) 等,都是利用了光學幹涉原理的典型儀(yi) 器。

市場上銷售的大部分幹涉測量裝置是由光學幹涉部分和信號解析部分組成的。

采用先進的電信號處理技術,可以同時實現高分辨率和很寬的測量範圍。

但是,我們(men) 這裏介紹的光學幹涉裝置,並不包含幹涉條紋的電信號處理內(nei) 容,我們(men) 重點介紹了其光學部分。因此,雖然其可觀測的範圍有限,但足以進行幹涉計測的基礎實驗和理論驗證。

幹涉技術並不僅(jin) 僅(jin) 限於(yu) 幹涉計測,它在很多領域都有廣泛應用。此處介紹的內(nei) 容也可作為(wei) 其基礎實驗的有益參考。

使用了幹涉原理的應用例

外差幹涉儀(yi) (Heterodyne interferometer)

激光陀螺 (Laser gyroscope)

光學相幹斷層掃描儀(yi) (Optical Coherence Tomography)

時間分辨幹涉法 (Time-resolved interferometer)

全息技術 (Holography)

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