在幹涉儀(yi) 實驗中，為(wei) 了更好地熟悉西格瑪光機幹涉儀(yi) 的特性，可以進行幾個(ge) 簡單的實驗。這些實驗不需要使用特殊的工具，但能提供一些教科書(shu) 或計算公式難以得到的經驗。

1.幹涉條紋的控製

通過調整反射鏡的方位和俯仰，可以改變幹涉條紋的方向。進一步調整反射鏡，可以擴大條紋的間隔，使其整體(ti) 成為(wei) 一個(ge) 均一亮度的光斑。當兩(liang) 個(ge) 光束平行時，即幹涉條紋數量為(wei) 零時，表示兩(liang) 束光完全平行。

2.相位差

在兩(liang) 個(ge) 光束平行（0個(ge) 幹涉條紋）時，輕輕觸摸（推）某個(ge) 反射鏡，光斑的亮度會(hui) 劇烈變化。光斑最亮時，說明兩(liang) 路光束的相位一致；最暗的位置表示其相位差為(wei) 半個(ge) 波長。每推動反射鏡移動半個(ge) 波長的距離，明暗交替出現一次。

3.空氣擾動

小心地把手伸到幹涉儀(yi) 的某一光路下方，可以觀測到幹涉條紋的波動。這是因為(wei) 手掌溫度導致空氣被加熱，引起空氣折射率的變化。手掌離光路越近，幹涉條紋的擾動也越大。

4.反射鏡變形

稍微擰緊固定幹涉儀(yi) 的反射鏡的緊定螺釘，可以觀測到幹涉條紋的變化。這個(ge) 動作會(hui) 導致反射鏡內(nei) 部應力變化，引起鏡麵精度的變化。通過幹涉條紋的變化，可觀測到通常無法直接感知的微小變形。

這些實驗方法可以幫助我們(men) 更好地理解幹涉現象，並且通過實際操作獲得一些直觀的經驗，這是理論學習(xi) 難以提供的。

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