DTM-CLMI可幹涉長測定機是一款使用了1/4波長板和PBS的偏光邁克耳遜幹涉儀(yi) ，可測試半導體(ti) 激光器的背景光的可幹涉長度。

DTM-CLMI可幹涉長測定機的操作簡便，首先使用He-Ne激光光源，調整好幹涉儀(yi) ，然後使用平台把反射鏡移開，入射一束準直的半導體(ti) 激光束。使用偏光板過濾掉激光成分，僅(jin) 讓背景光到達攝像頭。一點一點地耐心調試可動反射鏡找到出現幹涉條紋的位置，可以觀測到幹涉條紋的範圍便是其可幹涉長度了。

DTM-CLMI可幹涉長測定機

DTM-CLMI測定機原理圖

DTM-CLMI測定機成像預覽

組件詳情：

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