SGRM-200N反射率測量儀(yi) 是一款可實現微小區域和曲麵的反射率測量的設備。該測量儀(yi) 可直接測量未經處理的透明薄板的反射率，並能幾乎不受底麵反射的影響；可快速高精度測量曲麵和平麵的反射率。

SGRM-200N反射率測量儀(yi) 具有寬廣的測定波長範圍（380 ~ 1050nm），以及微小的測量光斑尺寸（約φ25μm），適用於(yu) 各種曲率半徑的樣品測量，測量過程隻需數秒，滿足各種需求。

SGRM-200N反射率測量儀(yi)

測量結果示例

外形圖

細節：

·采用了特殊結構的半透鏡，能高效地收集被測試樣的反射光，並高效地導入分光光度計，可快速地完成低反射率樣品的測量。

·采用了特殊的光學結構，有效地避免了底麵反射的影響，可直接測量未經處理的透明薄板的反射率。

(使用20倍物鏡時，可測最小透明薄板厚度可達0.3mm）

·采用了特殊鹵素燈和獨創的光學設計，其有效光量大，獲取數據快，重複精度高。

·測量點小(典型值為(wei) φ50μm)，可直接測曲麵，以及膜層的分布特性。

·可用Microsoft® Excel®文件格式保存測量數據。

·可在同一窗口內(nei) ，同時顯示多個(ge) 樣品的測量結果(曲線)，方便數據的對比分析。

·采用峰值跟蹤技術，提高了反射率的重複測量精度。

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