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自動偏光解析係統

2018-05-25 16:58| 發布者: | 查看: |

  所謂偏光解析係統

  通過測定並分析偏光狀態,可以了解物質內(nei) 部的狀態,或表麵性狀,或光學特性等。

  西格瑪光機推薦的自動偏光解析係統是一套標準化了的光源,光器件,支架平台,測量儀(yi) 和軟件的組合。

  它既可完成簡易的偏光測量,也可以改裝為(wei) 專(zhuan) 用的測定裝置,應用廣泛。

  偏光測量軟件

  簡易偏光解析軟件「SimpleAPAS」

  可實現激光等特定波長的消光比,相位差測定,也可組合到客戶的應用程序中去。

  主要功能

  ·波長板,檢偏器光軸的自動調整          ·轉動補償(chang) 器方式的偏光計測和相位差測量

  ·塞拿蒙補償(chang) (Senarmont compensator)測量相位差  ·各種過程計測

  綜合偏光解析軟件「SKPola」

  使用紫外,可見或近紅外光源,配合專(zhuan) 用的光學係統,可分析分光數據特性。

  對應單一波長測定和分光測定,還可以測定高次相位差,可完成偏光光學零件的主要技術指標的評估。

  ·偏光光學零件光軸的自動調整            ·轉動檢片器補償(chang) 方式的偏光計測  ·分光透過率測定

  ·塞拿蒙補償(chang) (Senarmont compensator)測量相位差    ·圓偏光對比度測量        ·各種過程計測

  ·轉動補償(chang) 器方式的偏光計測             ·偏光器透過偏光比測定

  

  偏光測定應用例

  

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